近年來，為了研究和測量作物生長的限制因素等有價值的信息，進一步提高作物的生長潛力，實現(xiàn)增產(chǎn)增效的目標，許多新的科學儀器和技術被應用于農(nóng)業(yè)領域。作物冠層分析儀是重要的農(nóng)業(yè)測量儀器之一，其功能是快速、實時地測量有效光合輻射PAR值，用于描述作物冠層PAR的分布，也用于計算冠層葉面積指數(shù)LAI值。
        我們知道光對植物有很大的影響。植物只有在光照條件下才能進行正常的光合作用等，以維持其正常的生長需要。因此，利用作物冠層分析儀研究光照對作物生長的影響，對于精準農(nóng)業(yè)的發(fā)展具有重要意義。作物冠層分析儀的測量原理是當光線穿過植物冠層時，由于樹葉和樹枝的遮擋，輻射強度會迅速降低。根據(jù)減少的程度，可以計算出植物的葉量，進而計算出LAI。
        與傳統(tǒng)的植物冠層分析相比，作物冠層分析儀是zui簡單、最容易測量的方法。它直接利用光量子傳感器對植物冠層截獲和穿透的光合作用進行測量、計算和分析。有效輻射和葉面積指數(shù)，通過一次測量，即可獲得所需的數(shù)據(jù)結果，無需進行復雜的測量、計算等，為植物研究的開展提供了諸多便利。