數(shù)字集成電路測試儀YB3117

更新時間：2025-08-31

產(chǎn)品型號：YB3117

產(chǎn)品報價：

產(chǎn)品特點：數(shù)字集成電路測試儀YB3117是對集成電路進行測試的儀器設備。集成電路測試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關鍵手段之一。集成電路測試技術是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術之一，因此，集成電路測試儀作為一個測試門類受到很多國家的高度重視。40年來，隨著集成電路發(fā)展到第四代，集成電路測試儀也從Z初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，

YB3117數(shù)字集成電路測試儀YB3117的詳細資料：

數(shù)字集成電路測試儀｜YB3117

數(shù)字集成電路測試儀｜YB3117分類

按集成電路分類：數(shù)字集成電路測試儀和模擬集成電路測試儀

按功能分類：集成電路功能測試儀和集成電路參數(shù)測試儀

按形式分類：便攜式集成電路測試儀和臺式集成電路測試儀

集成電路測試儀供能

1.測試模擬集成電路、數(shù)字集成電路以及數(shù)模混合集成電路。

2.測試IC器件的直流、交流及動態(tài)參數(shù)。

3.可提供多達64管腳的模擬IC測試和32管腳的數(shù)字IC測試能力

數(shù)字集成電路測試儀｜YB3117產(chǎn)品說明：

zui大測試引腳數(shù)100：
中文Windows操作平臺：
開放式自建芯片和數(shù)據(jù)庫。

	YB3117/YB3118
測試種類	可測試TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可編程器件
顯示方式	圖形顯示（時序顯示）、狀態(tài)顯示
被測芯片腳數(shù)	100腳以下
zui大輸出電流	每引腳100mA
測試速度	500kHz/Pin
中文Windows操作平臺
開放式自建芯片的數(shù)據(jù)庫
V-1特性曲線測試
工作溫度	0°C~30°C
工作濕度	75%
功耗	約45W（不包括供待測板的功耗）
工作電壓	220V±10%
YB3117配臺式電腦	YB3118配筆記本電腦
外形尺寸	90H×350W×350D（mm）
質(zhì)量	約4.7kg